PDHID 与中心切割技术在高纯气体分析中的应用

摘要：

脉冲放电氦离子化检测器作为一种通用型检测器，对几乎所有气体组分均具有很高的灵敏度。中心切割技术通过对气体的切割，可有效分离低含量待测组分，防止底气干扰。二者的结合可较好的用于对高纯气体中痕量杂质测定。以He、N2、Ar三种高纯气体分析为例，阐述了中心切割技术及脉冲放电氦离子化气相色谱技术的应用，并对操作过程中可能遇到的问题进行了讨论。

关键词：脉冲放电氦离子化检测器、中心切割、高纯气体、分析

分类号：TQ117

资助基金：国家科技支撑计划2013BAK10B03

在线出版日期：2015-05-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：51-54