10.16711/j.1001-7100.2020.05.006
低温单色器硅晶体界面接触热阻的实验研究
随着同步辐射装置的发展,同步辐射光源亮度不断地提高,其会对单色器硅晶体产生巨大的热负荷.若不及时有效地释放这些热负载,会导致晶体局部变形,从而影响光的传输效率.接触热阻是影响硅晶体散热能力的重要因素,因此设计和搭建了固体界面接触热阻的实验测量平台,测量不同填充材料及压力对接触热阻的影响.该研究不仅完善了硅晶体与无氧铜接触热阻在低温真空环境下的实验数据,也为晶体单色器的理论分析和冷却结构设计提供了可靠的参数保证.
硅晶体、单色器、接触热阻
48
TK124(热力工程、热机)
2020-06-28(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共4页
21-23,52