10.16711/j.1001-7100.2018.10.008
超导太赫兹直接检测器的制备技术研究
本文研究了超导太赫兹直接检测器的制备流程和关键工艺技术,采用步进投影式光刻技术,来满足检测器对小面积超导隧道结和高频宽带匹配电路的高精度尺寸要求.实验获得了Nb膜反应离子刻蚀形成约42°斜坡角度的刻蚀气体CF4/O2比,解决了超导微带线在天线边缘处容易断线问题,成功制备出超导太赫兹直接检测器样品.
Nb/Al-AlOx/Nb、隧道结、太赫兹检测器、斜坡刻蚀、制备工艺
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TN305.7;TN605;TB383
国家自然科学基金;国家自然科学基金
2018-11-29(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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