低温光学系统漏热测试方法及试验研究

摘要：

低温组件的漏热量准确测试对低温光学系统的设计有着重要影响.以工作温度为200K的干涉仪光学组件为研究对象,建立了一套漏热测试方法和热控方案,简化了辐射换热计算过程,通过对热真空试验数据的分析计算出了各项漏热值,分析了影响漏热的主要因素和主要漏热部位,给出了减小系统漏热的改进方案.

关键词：低温制冷、低温光学、漏热

所属期刊栏目：46

分类号：V416.5;TK124;TB657

在线出版日期：2018-06-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：11-13,19