氧缺陷导致的结构无序对La2/3Sr1/3MnO3薄膜电输运特性的影响
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氧缺陷导致的结构无序对La2/3Sr1/3MnO3薄膜电输运特性的影响

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为了澄清结构无序对电输运特性,特别是低温下电阻极小的影响,采用脉冲激光沉积方法在LalO3(100)基片上制备了两类La2/3Sr1/3MnO3薄膜.一块是在通40Pa氧气的气氛下沉积,沉积后不再进行通氧气的原位退火.另一块在同样通40Pa氧气的气氛下沉积,但沉积后再在6×104Pa的氧气气氛下进行原位退火.对两种薄膜的结构,磁特性和电输运特性进行了对比研究.结果表明:氧缺陷导致了薄膜结构的无序,更导致了类似自旋玻璃行为的磁无序.电输运特性结果表明原位退火使得薄膜的金属一绝缘体转变温度Tc从约195K提高到335K.对由于结构无序的存在对低温电阻较小行为的影响作了系统对比研究,曲线拟合的结果表明对于缺氧薄膜和进行了原位退火的薄膜的低温电阻较小行为的主要影响因素分别是类近藤散射作用和电子一电子相互作用,这一结果对于澄清庞磁电阻锰氧化物体系的低温电阻极小现象有一定积极意义.

锰氧化物、外延薄膜、结构无序、电阻极小

32

O6(化学)

the National Natural Science Foundation of China NSFC10774097;10904088;The Science & Technology Committee of Shanghai Municipality08dj1400202;Special Research Fundation for the Doctoral Discipline of University200802800003;the Science and Technology Innovation Fund of the Shanghai Education Committee09ZZ95

2011-03-07(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

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低温物理学报

1000-3258

34-1053/O4

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2010,32(6)

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