10.3969/j.issn.1000-3258.2005.03.004
MgO(111)上NbN和AlN薄膜的生长研究
在制备NbN/AlN/NbN隧道结的工艺过程中,为了获得具有优质单晶结构的NbN薄膜,我们在MgO(111)基片上探索了直流溅射法制备NbN薄膜的生长工艺条件,XRD研究分析表明,我们获得了单晶结构良好的NbN薄膜;为了支持作为上电极的NbN薄膜的生长,也需要良好的AlN薄膜用作势垒层,我们采用射频磁控溅射设备和纯净的Al靶对AlN薄膜进行了制备研究.实验结果表明,所获得的AlN薄膜具有六方c-轴取向,并讨论了衬底和薄膜界面处可能的结构情况.
NbN、AlN、磁控溅射、XRD、c轴取向
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O51(低温物理学)
2005-09-15(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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