10.3969/j.issn.1000-3258.2005.02.016
Rs测试标准的探讨
本文在目前国际上正在制订的高温超导薄膜微波表面电阻Rs标准测量方案的基础上,介绍了国内正在研制的测试方法和系统.该系统采用低损耗高介电常数的兰宝石构成工作在TE011δ谐振模式的介质谐振器,在原有研究基础上利用电磁场仿真,改变了输入和输出耦合方式,在77K时,利用它对单片高温超导薄膜Rs进行测试,提高了整个测试系统的品质因素,可成功地用于10×10mm2,10×15mm2和Φ51mm等多种规格样片的测试.整个测试系统体积小,操作方便,且所需实验条件简单,测试灵敏度高,重复性好,对高温超导薄膜无损伤.
高温超导薄膜、微波表面电阻、介质谐振器、品质因数
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TN1;TP3
国家超导技术联合研究开发中心资助项目
2005-06-02(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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