磁化法测量Bi2223/Ag高温超导带材的超低频交流损耗

摘要：

本文利用振动样品磁强计测量了Bi2223/Ag短样的磁滞回线,通过磁滞回线的面积求得Bi2223/Ag超导体中的损耗,讨论了磁场加载速率和幅值对超导体交流损耗的影响 ,并将实验结果与理论预期值进行了比较.目前国内外高温超导体的研究主要集中在工频附近,而利用VSM研究77K温度下Bi2223/Ag超导带材的超低频交流损耗的文献据我们所知还没有发现,本文给出了这方面初步的实验结果.样品BS4按PIT法制备,芯数为37,尺寸为0.02 ×0.482×0.982mm3, 用四引线法测得样品的临界电流为19A(77K, 0T).

机标关键词：磁化法、测量、高温超导带材、超低频、交流损耗、高温超导体、磁滞回线、振动样品磁强计、四引线法、实验、临界电流、加载速率、预期值、芯数、文献、温度、面积、理论、国内、工频

所属期刊栏目：22

分类号：O4(物理学)

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：462-467