Tl-2212膜本征结阵列微桥微波特性测试与分析

摘要：

@@ 本文对Tl-2212高温超导薄膜本征结阵列微桥这种新型超导结器件结构的微波特性进行了测试和分析.本征结串联阵列在外加微波的作用下发生锁相振荡,其I-V特性呈现出明显且稳定的微波感应台阶,表明阵列微桥具有良好的微波响应.这项研究是本征结阵列微桥实用器件设计制作的基础.

机标关键词：本征结、阵列、微波响应、特性测试、高温超导薄膜、微波特性、微波感应、设计制作、器件结构、相振荡、超导结、基础、串联

所属期刊栏目：21

分类号：O4(物理学)

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：230-234