采用频域介电谱法的高压干式套管屏间局部绝缘劣化诊断

摘要：

干式套管作为变压器的重要组成部分,屏间局部绝缘劣化时有发生,严重威胁变电站的安全运行.为进一步研究干式套管屏间局部绝缘劣化的现象,构建了实验模型,通过并联电阻的方式模拟了屏间局部绝缘劣化的现象,并基于频域介电谱(frequency-domain dielectric spectroscopy,FDS)对其在室温下进行了相应的诊断.结果表明,随着屏间局部绝缘劣化的发展,套管电容和介质损耗因素的频响曲线存在明显的过渡过程,在绝缘劣化发生的早期,工频检测方法有效性较低,而FDS的有效性则较高,且测量频率越低,对屏间局部绝缘劣化早期缺陷的检出效果越好.此外针对tanδ-f曲线中出现的快速下降段,修正了CIGRE套管模型,计算结果与实验结果一致性较好.

关键词：频域介电谱、干式套管、屏间局部绝缘劣化、绝缘诊断、模型修正

所属期刊栏目：42

分类号：TM85(高电压技术)

资助基金：国家电网有限公司总部科技项目GYB17201600207

在线出版日期：2018-08-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：2359-2365