基于太赫兹成像的层状复合绝缘结构内部分层缺陷SSA-CNN定量表征

摘要：

层状复合绝缘结构内部分层缺陷的几何形状和位置在运行过程中会引发场强畸变,引发局部放电乃至绝缘击穿等故障,因此对层状复合绝缘件内部分层程度进行准确检测具有重要意义.首先利用太赫兹光谱对含分层缺陷的层状复合绝缘结构进行频域成像,得到典型分层缺陷图像集;在此基础上,采用 DCGAN模型对图像扩充并建立数据集,实现样本扩充和均衡化;最后,通过三种SSA-CNN(语义自注意)模型对缺陷样本中的分层区域缺陷的几何面积进行了计算分析.结果表明,DeepLabV3+(MobileNetV2)模型的像素精确度最高,对分层区域的识别率可达 97.59%,通过像素点的计算可成功表征分层区域缺陷的几何尺寸.研究结果可为层状复合绝缘结构内部分层缺陷的非接触式定量表征提供技术参考.

关键词：太赫兹无损检测技术、分层缺陷识别、SSA-CNN、DeepLabV3+、MobileNetV2

所属期刊栏目：18

分类号：TM561(电器)

资助基金：国家自然科学基金52167018

在线出版日期：2023-10-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共10页

页码：63-72