民用飞机单粒子翻转问题研究

摘要：

单粒子翻转(Single Event Upset,SEU)效应是机载复杂电子硬件设计所必须考虑的重要问题,对SEU效应进行了描述,分析了复杂电子设备经常用到的芯片类型(专用集成电路器件、反熔丝FPGA、SRAM型FPGA、Flash型FPGA)及其优缺点,总结了三模冗余、纠错码、擦洗、系统监控这四种常见的SEU减缓技术,对于国内民机机载复杂电子硬件的设计具有参考意义.

关键词：单粒子翻转、专用集成电路器件、现场可编程门阵列、三模冗余、复杂电子硬件

所属期刊栏目：39

分类号：TP311(计算技术、计算机技术)

在线出版日期：2018-04-02（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：32-33,54