缓解由NBTI效应引起的电路老化研究
随着科学技术的进步,晶体管尺寸不断逼近物力极限,使得NBTI((Negative Bias Temperature Instability))效应成为影响集成电路老化的主要因素.现有很多方法缓解电路的NBTI效应,如门替换、输入向量控制等.针对两种方法的优缺点,如何避免每种方法的缺点而尽可能地发挥其最大的优势成为研究的重点.
NBTI效应、电路老化、门替换、输入向量控制
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TN407(微电子学、集成电路(IC))
2019-05-06(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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