一种可容软错误的稳定性检测器

摘要：

随着现代技术的大力发展,集成电路的可靠性日益严重.负偏置温度不稳定性引起的电路老化,高能粒子轰击组合逻辑电路产生软错误,是影响可靠性的两个重要因数.基于上述两个问题,设计了一种稳定性检测器,该稳定性检测器用于老化预测传感器中,用来检测集成电路老化情况.并且结构自身可以容软错误.

关键词：集成电路、负偏置温度不稳定性、老化预测、软错误

所属期刊栏目：15

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2019-06-03（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：266-267