一种可容软错误的稳定性检测器
随着现代技术的大力发展,集成电路的可靠性日益严重.负偏置温度不稳定性引起的电路老化,高能粒子轰击组合逻辑电路产生软错误,是影响可靠性的两个重要因数.基于上述两个问题,设计了一种稳定性检测器,该稳定性检测器用于老化预测传感器中,用来检测集成电路老化情况.并且结构自身可以容软错误.
集成电路、负偏置温度不稳定性、老化预测、软错误
15
TN407(微电子学、集成电路(IC))
2019-06-03(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共2页
266-267
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集成电路、负偏置温度不稳定性、老化预测、软错误
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TN407(微电子学、集成电路(IC))
2019-06-03(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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