元器件引脚去氧化工艺研究
介绍了常用的元器件引脚去氧化的方法,针对不同元器件引脚去氧化方法进行工艺试验,对比试验结果,得出各种元器件引脚去氧化方法的最佳工艺参数和适用特点。对电子装联企业元器件引脚去氧化工艺控制有指导作用。
元器件、引脚、去氧化
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TP391(计算技术、计算机技术)
2016-05-04(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共3页
265-267
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元器件、引脚、去氧化
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TP391(计算技术、计算机技术)
2016-05-04(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共3页
265-267
国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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