基于线阵CCD的智能微小位移测量系统设计
介绍了一种基于线阵CCD的智能位微小位移测量系统.该系统以CCD器件TCD132D为核心,利用8051单片机组成高速数据采集与处理系统,实现了微小位移的非接触测量,并叙述了系统的硬件和软件设计方法.该系统测量准确,电路实现容易、扩展性好,具有广阔的应用前景.
CCD、非接触测量、微小位移、单片机、时序驱动
11
TN36(半导体技术)
2015-12-18(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共3页
161-163
点击收藏,不怕下次找不到~
CCD、非接触测量、微小位移、单片机、时序驱动
11
TN36(半导体技术)
2015-12-18(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共3页
161-163
国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1
违法和不良信息举报电话:4000115888 举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn