改进的去隔行算法及FPGA验证平台设计

摘要：

针对传统去隔行算法的不足，提出了一种改进的去隔行算法。该算法扩大了水平方向边缘搜索范围，并利用周围像素判断边缘，减小了误差，提高了小角度边缘搜索的精确度。为了验证算法的正确性，利用Altera公司的CycloneII FPGA结合SDRAM，Flash Memory构建了一个验证平台，该文介绍了平台组成框图，分析了各模块功能。实验结果表明，改进的算法弥补了传统算法边缘不够平滑，出现锯齿等缺点，验证平台也达到了预期要求。

关键词：去隔行、Flash Memory、SDRAM、VGA、FPGA

分类号：TN402(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2013-09-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：5334-5337,5340