10.3969/j.issn.1009-3044.2012.09.043
基于双正交提升小波的单晶硅绒面的去噪研究
单晶硅绒面在制绒时随着制绒液的浓度的变化,有可能会导致腐蚀不均匀,绒面的顶部或底部会有准方形的凹坑出现.基于双正交小波,结合提升小波的优点,形成双正交提升小波,对单晶硅绒面进行去噪处理.结果表明,双正交提升小波能将表面的“凹坑”缺陷去除,并以光的吸收率为依据将“凹坑信号”等价为“小的三角形”.
单晶硅绒面、双正交提升小波、凹坑、去噪
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TP271(自动化技术及设备)
2012-07-25(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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