基于双正交提升小波的单晶硅绒面的去噪研究
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.3969/j.issn.1009-3044.2012.09.043

基于双正交提升小波的单晶硅绒面的去噪研究

引用
单晶硅绒面在制绒时随着制绒液的浓度的变化,有可能会导致腐蚀不均匀,绒面的顶部或底部会有准方形的凹坑出现.基于双正交小波,结合提升小波的优点,形成双正交提升小波,对单晶硅绒面进行去噪处理.结果表明,双正交提升小波能将表面的“凹坑”缺陷去除,并以光的吸收率为依据将“凹坑信号”等价为“小的三角形”.

单晶硅绒面、双正交提升小波、凹坑、去噪

8

TP271(自动化技术及设备)

2012-07-25(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共3页

2087-2089

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

电脑知识与技术

1009-3044

34-1205/TP

8

2012,8(9)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn