10.3969/j.issn.1009-3044.2007.14.062
一种基于Xscale的嵌入式交叉调试系统(器)的设计
介绍了JTAG交叉调试技术及Xscale芯片,并在此基础上给出一种嵌入式交叉调试软件系统的设计.主机端环境为WINDOWS操作系统,并利用ADW调试软件,目标系统采用Xscale芯片.该系统的特点是纯软件实现,廉价方便.
JTAG、嵌入式系统、交叉调试
3
TP32(计算技术、计算机技术)
2007-10-29(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共3页
405-406,408