集成电路的设计验证

摘要：

集成电路设计业正面临着一系列的挑战:芯片性能越来越强,规模越来越大,开发周期越来越长,设计质量越来越难于控制.而随着半导体技术的发展,设计验证已经逐渐成为大规模集成电路设计的主要瓶颈.而设计验证最基本的内容是功能验证,用于判别设计规范和实现之间是否一致.对模拟验证、形式验证中的等价性检验和模型检验进行了介绍,然后引入传统方法的一种改进--基于覆盖率的验证方法.

关键词：设计验证、协同仿真、自测检验、基于覆盖率的方法

分类号：TP331(计算技术、计算机技术)

在线出版日期：2006-06-15（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：145-146