内嵌快闪存储器的测试优化与分析

摘要：

由于对快闪存储器的广泛应用,对优化测试和可靠性日益迫切的要求成为一大重要挑战.因此,本文通过分析阐述如何合理有效应用夺路并行测试策略,可以更有效的在快闪存储器测试时间和产量方面达到很好的平衡.

关键词：测试优化、内嵌快闪存储器、多路并行

分类号：TN4;TP3

在线出版日期：2005-03-24（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：87-89