基于光功率损耗的外绝缘表面污秽度检测系统影响因素研究

摘要：

为了提高基于光功率损耗的绝缘表面污秽度测量方法的精度,搭建了基于裸光纤的表面污秽度检测系统.基于该系统,对盐溶液浓度、灰悬浊液浓度、光纤形状、光源类型和光纤类型对表面附盐导致的光功率损耗的影响进行了实验研究,并对实验结果进行了较为深入的理论分析.实验结果表明:随着盐溶液浓度的增加,光功率损耗逐渐增大;灰悬浊溶液浓度对光功率损耗影响不大;采用U型光纤时的光功率衰减比直线型光纤更显著;采用宽谱(多纵模)光源时的光功率衰减比窄谱(单纵横)光源更显著;采用多模光纤的光功率衰减比单模更显著.理论分析结果很好地解释了以上实验结果,验证了实验结果的可靠性.进行基于光纤的外绝缘表面污秽度测量时应采用U型状态、半导体光源和多模光纤以提高测量精度.

关键词：污秽度、光功率损耗、光纤、光纤形状、光源类型、光纤类型

所属期刊栏目：39

分类号：TM216(电工材料)

资助基金：国家自然科学基金资助项目51607066,61377-088;中央高校基本科研业务费专项资金资助项目2017-MS110;河北省自然科学基金资助项目E2012502045

在线出版日期：2019-04-17（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：114-119