双处理器方案在智能测试仪中应用

摘要：

根据现代测试仪器的发展趋势,采用双处理器方案研制出了一种多功能智能测试仪,并对该测试仪的性能进行了测试.详细介绍了AD7714的工作原理,内部结构图.数字信号处理采用新型数字信号处理器(DSP)TMS320LF2407A.由于DSP数据运行计算速度远大于MCU的处理速度,故在DSP+MCU双处理器方案中给出了DSP与MCU之间数据传输的解决办法,并通过在实验室条件下进行测试,得出了所测得的几组实验数据,从实验数据中可以看出该测试仪的优良性能.该仪器具有很好的市场前景与应用前景.

关键词：双处理器、智能测试仪、数据传输

所属期刊栏目：25

分类号：TM930.9

在线出版日期：2005-11-24（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：59-61