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10.3321/j.issn:1000-1026.2004.08.017

光耦器件瞬态饱和对微机保护装置的影响及对策

引用
提出在快速瞬变扰动的作用下,光耦器件将产生瞬时饱和现象.指出瞬变扰动从直流电源、交流电流、电压端口施加时,即使开关量输入没有任何信号,光耦器件的输出也一直存在电平跌落、再恢复的过程,该过程伴随着每一个瞬变脉中,相当于光耦器件已经导通,影响开关量输入的正确性.光耦器件用于串行口、开关量输出等回路时也存在上述现象.因此认为光耦器件瞬时饱和现象是普遍存在的,对微机保护装置影响较大,同时提出基于硬件、软件的解决方案.

微机保护、瞬态饱和、光耦器件、快速瞬变脉冲群

28

TM774(输配电工程、电力网及电力系统)

2004-05-28(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共4页

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