10.3321/j.issn:1000-1026.2003.15.011
基于FPGA的多通道无缝采样分析技术的实现
提出了基于现场可编程门阵列(FPGA)的多通道无缝采样分析技术的实现方法,采取采样控制时序与数据处理分析控制时序分离,以及两组动态数据存储区的切换控制,由FPGA实现同步产生上述时序.解决了数据采集与处理的异步问题,使两者同步进行,实现了多通道同步无缝采样分析、采样窗口长度可调和通道扩展等功能.另外给出了基于FPGA芯片EP1K30TC144-3的一些实际运行结果,证明了多通道无缝采样分析技术的可行性.
测量方法、无缝采样技术、电能质量、现场可编程门阵列
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TM930.12
国家自然科学基金51077021;许继奖教金资助项目
2003-11-21(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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