10.3969/j.issn.1000-7229.2006.03.011
谐振耐压试验中电晕对品质因数的影响
变频串联谐振耐压中,品质因数影响试验电源的容量,因此提高品质因数对减少电源容量有重要意义.根据试验现场的实际情况,提出实际试验中的等效电路图,由等效电路图推导出实际的品质因数的计算式.得出电晕对品质因数影响的各种因素,由此提出相应的减少电晕对品质因数影响的措施.
变频、串联谐振、电晕、品质因数
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TM851(高电压技术)
2006-05-17(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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