X射线荧光光谱法测定氢氧化镁中杂质含量

摘要：

为测定氢氧化镁中杂质元素含量,采用X射线荧光光谱(XRF)法进行重复性和准确性试验.结果表明,XRF法具有快速、无损、多元素同时测定、检测元素范围广等特点,重复性较好.XRF法测量结果与化学方法和电感耦合等离子体发射光谱(ICP)法的测量结果接近,准确性较好.

关键词：X射线荧光光谱法、氢氧化镁、杂质含量

所属期刊栏目：36

分类号：O653(分析化学)

在线出版日期：2013-09-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：235-236