10.3969/j.issn.1000-100X.2013.12.021
di/dt与集电极电压联合检测IGBT短路策略
大功率绝缘栅双极型晶体管(IGBT)模块开关速度较慢,单纯使用集射极电压检测短路需较长的检测盲区时间和较高的检测阈值,难以将IGBT短路电流和功耗限制在较低值,容易使IGBT受到较大伤害,而且较高的检测阈值会增加驱动器的设计复杂度.提出一种采用电流变化率和集射极电压联合检测大功率IGBT模块短路的方法.电流变化率能非常快速地检测IGBT硬短路状态,使驱动器能够快速保护IGBT模块;集射极电压能检测到软短路状态,较低的集射极电压检测阀值能使检测到软短路的时间提前.基于4500V等级的IGBT模块的实验结果证明所提出的策略是有效可行的.
绝缘栅双极型晶体管、短路检测、硬短路、软短路
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TN3(半导体技术)
2014-04-14(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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