10.14044/j.1674-1757.pcrpc.2018.06.020
探地雷达在低抗发热缺陷处理中的应用研究
66 kV低压并联电抗器为空心电抗器,周围存在360度强磁场,由于施工原因造成低抗基础以及接地连接部件发热,严重影响基础寿命,不利于低抗安全稳定运行.本文提出一种基于探地雷达的成像检测技术,将隐蔽性缺陷部位的实际情况以图像形式直观反映出来,实现对目标体的精准定位,使检测人员能够在不依赖设计图纸的情况下,对缺陷原因进行分析.该项检测技术应用到新疆某750 kV变电站低抗发热缺陷分析中,为缺陷消除提供了有力依据,取得了良好效果.
探地雷达、干式电抗器、发热缺陷
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2019-01-23(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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