高压内熔丝全膜并联电容器耐爆试验的分析研究

摘要：

对高压并联电容器的耐爆试验过程及机理进行了深入分析,结合内熔丝电容器试验中所表现出的一些特异现象,吸取油开关爆裂试验的研究成果,指出电容器内油中发生燃弧所产生的压力波是造成电容器恶性爆裂故障的直接原因,而能量注入的速率(dW/dt)决定着压力波的幅值.因此电容器爆裂的直接原因是能量上升的速率d W/ dt而不是注入能量的多少.另外,文章还着重分析了内熔丝在爆裂试验过程中的动作特性.试验表明,一些内熔丝全膜电容器耐爆试验过程注入能量很多,但壳体完好无损,这不仅与全膜介质击穿点短接不易起弧,而且与内熔丝动作特性有关,最后探讨了改进电容器耐爆能力的方向和措施.

关键词：内熔丝全膜并联电容器、壳体爆裂试验、顶头压力波、能量上升速率、注入能量

所属期刊栏目：32

分类号：TM531.4(电器)

在线出版日期：2012-01-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：42-47