聚酰亚胺/纳米SiO2-Al2O3耐电晕薄膜的介电特性

摘要：

采用热液法制备了纳米SiO2-Al2 O3分散液,并用原位聚合法制备了单层及三层复合的聚酰亚胺(PI)/纳米SiO2-Al2 O3薄膜.研究了场强及温度对薄膜耐电晕寿命的影响,及掺杂量和复合结构对复合薄膜介电特性的影响.采用透射电镜(TEM)、扫描电镜(SEM)及红外光谱(FT-IR)对复合薄膜的形貌和结构进行了表征.结果表明:引入纳米SiO2-Al2 O3,材料的耐电晕寿命可以大幅度提高,外推至20 kV/mm时(155℃,50 Hz),纳米粒子掺杂量为20％的PI/纳米SiO2-Al2 O3三层复合薄膜的耐电晕寿命为3230.0 h,是纯PI薄膜的41.7倍,Kapton100CR薄膜的3.7倍.该文结合结构表征和介电性能分析探讨了相应的耐电晕机制.

关键词：复合薄膜、聚酰亚胺、纳米SiO2-Al2O3、介电性能、耐电晕

所属期刊栏目：23

分类号：TM215(电工材料)

资助基金：国家自然科学基金 51277044

在线出版日期：2019-10-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共8页

页码：57-64