组合逻辑电路多故障测试生成算法的研究

摘要：

针对布尔差分算法需要进行大量的异或运算,特别是求解多故障测试矢量时,求解高阶布尔差分更是繁琐的问题,依据卡诺图求解异或运算的方法,提出了获得多故障测试矢量的简便算法.该算法对单故障特别是多故障的测试矢量生成,无论故障数为多少,只要函数的变量数不变,就不会因故障数增加而使卡诺图法的求解难度增加,从而减少了多故障测试矢量生成时间.

关键词：组合电路、布尔差分、测试生成、卡诺图

所属期刊栏目：9

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：黑龙江省教育厅科学技术研究项目10541040

在线出版日期：2005-10-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：345-348