10.3969/j.issn.1009-279X.2015.02.008
金属表面微坑阵列掩膜电化学刻蚀技术研究
采用负胶光刻工艺制备了微坑阵列胶模,通过实验分析了抛光工艺对刻蚀均匀性的影响,解决了微坑阵列刻蚀缺陷的问题。研究了酸洗对基板刻蚀的影响,得出酸洗可改善刻蚀均匀性的结论,并通过调节溶液pH值的方法解决了溶液沉淀的问题。分析了掩膜孔径对刻蚀均匀性的影响,并利用自行搭建的电化学刻蚀装置完成了直径60μm、深11μm的微坑阵列刻蚀。实验结果验证了掩膜电化学刻蚀工艺的可行性,为金属表面微小图形的制作提供了一种可行的方案。
UV-LIGA、微坑阵列、电化学刻蚀、酸洗
TG662
国家高技术研究发展计划863计划资助项目2012AA040406;国家自然科学基金资助项目51375077
2015-06-02(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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29-32,37