10.3969/j.issn.1009-279X.2009.05.003
进电方式对P型硅极间电阻影响的试验研究
研究了不同进电方式条件下P型硅极间电阻的变化特征,并从进电有效接触面积的角度对其进行分析.通过对电阻率4.7 Ω·cm的P型硅进行放电切割,获取的单脉冲放电电压、电流波形验证了试验分析的正确性.结果表明,面进电方式下P型硅的极间电阻最小,且进电有效接触面积越大,P型硅的极间电阻就越小,放电切割电流就越大.
进电方式、放电切割、极间电阻、硅
TG661
江苏省高技术研究计划资助项目BG2007004
2009-11-30(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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