超声TOFD图谱多普勒频移估计及增强算法研究

摘要：

为了提高超声TOFD平行扫查(B扫)图谱的横向分辨率、区分横向接近的不同缺陷,采用合成孔径聚焦技术(SAFT,Synthetic Aperture Focusing Technique)对B扫图谱进行波束锐化和图像增强,推导了缺陷尖端衍射回波的参数模型和多普勒频移,提出了B扫图谱多普勒频率随缺陷深度呈非线性关系.在经典SAF重建的基础上,对合成孔径两侧的缺陷信号进行增益补偿,修正波束衰减引起的B扫图谱灰度梯度下降.研究结果表明:该方法能有效提高孔径合成图谱中缺陷信号的横向分辨率和对比度,精确表征缺陷在被检测体中的横向位置及缺陷高度.

关键词：超声TOFD、多普勒频移、合成孔径聚焦、图像增强

所属期刊栏目：42

分类号：TG409(焊接、金属切割及金属粘接)

资助基金：国家自然科学基金资助项目51005153;江苏质监局科技预研项目

在线出版日期：2013-01-28（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：12-14,33