基于加速退化原理的光纤陀螺性能保持期评估方法研究

摘要：

为评估光纤陀螺在长期贮存条件下的性能保持期,从光纤陀螺自身的特点出发,根据贮存环境的具体要求,详细分析了加速试验过程中试验应力及应力量值的选取,明确了试验样品的分配及具体试验时间估算方式.通过加速退化的手段得到样品的零偏和标度因数等数据,结合可靠性工程领域的成熟方法和理论,采用灰色系统模型和线性退化模型得到外推时间,计算Weibull分布的形状参数和寿命参数,并根据Arrhenius模型对光纤陀螺的性能保持期进行了预测.试验结果表明,采用ASE光源的0.01(°)/h量级的光纤陀螺,其性能保持期可以超过3a.

关键词：光纤陀螺、加速退化、温度、性能保持期、Arrhenius

所属期刊栏目：6

分类号：TN29(光电子技术、激光技术)

在线出版日期：2019-08-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共8页

页码：94-101