10.3969/j.issn.1008-1151.2012.12.041
SDD探测器在X荧光分析系统中的应用
介绍了硅漂移(SDD)探测器在X荧光分析系统中的应用,与SI-PIN探测器在能量分辨率、计数率等性能指标上的对比,以及在系统检出限上的实验对比,SDD探测器在性能指标及检出限上有着较大的优势.
SDD探测器、SI-PIN探测器、X荧光分析、检出限
TL814(粒子探测技术、辐射探测技术与核仪器仪表)
2013-02-20(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共2页
96-97