教学实验中集成芯片损耗增多问题的思考

摘要：

高职高专教育是以培养高等技术应用性专门人才为目标,所以更加强调实践教学.而实践教学之一的实验教学时数大大增加,使得实验设备和元件的损耗增多,这其中有些属于正常损耗,但有些损耗是非正常的或可避免的.文章分析了数字电子技术实验中集成芯片损耗现状及增多的原因,并提出减少损耗的几点措施.

关键词：教学实验、集成芯片、损耗增多、损耗原因、减少措施

分类号：G424.31 (教学理论)

在线出版日期：2008-05-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：156-157