电子元件抗老化试验装置性能改进研究
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

电子元件抗老化试验装置性能改进研究

引用
针对剩余电流动作断路器的电子元件抗老化试验,现有的试验装置存在试验效率低、试验设备购置成本高及体积大等缺点,针对目前已有试验装置存在的问题,对电子元件抗老化试验装置进行了改进,达到了提高试验效率、降低设备购置成本等目的.

剩余电流动作断路器、电子元件抗老化试验、试验装置

36

U46;TB3

2017-05-18(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共4页

42-45

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

电气应用

1672-9560

11-5249/TM

36

2017,36(8)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn