电磁脉冲测试用元件宽频模型的去嵌入提取

摘要：

在快速电磁脉冲骚扰的时域波形测量中,专用宽频测试电路往往需要自发研制,因此获取元件参数值的宽频特性是设计高标准电路的关键[1-2].去嵌入方法提供了一个通过制作测试结构间接测量获取表面贴装元件宽频特性的途径,并且对元件进行宽频建模将更为经济和便捷.去嵌入方法主要应用在射频微波半导体元件的分析和建模中[3-5],从已有文献看,采用网络分析仪结合专用的测试电路进行元件宽频建模是一种经济而有效的方法.

关键词：静电放电、电磁兼容、宽频模型、参数提取、去嵌入

所属期刊栏目：34

分类号：TM41;TM721.1;TN407

在线出版日期：2015-10-27（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页码：49-52