10.3969/j.issn.1672-9560.2007.05.014
带细缝屏蔽腔体耦合特性的仿真研究
带细缝屏蔽腔体耦合特性的分析对电子产品的设计、电子产品电磁兼容的预测具有重要的理论价值和应用价值.应用三维FDTD建模计算带细缝屏蔽体在外部干扰源作用下,屏蔽体内部的电场情况.当采用增强数值算法处理细缝时,计算的空间网格尺寸划分比腔体细缝尺寸大,可以减少计算时间和计算机CPU与内存资源利用率,所以本文应用了FDTD中的增强数值算法进行仿真研究,并得出结果进行分析.
细缝、ETSF、FDTD、耦合、电磁兼容
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TN7(基本电子电路)
重庆市科委资助项目2006BA1065
2007-07-23(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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