10.3969/j.issn.1672-9560.2006.01.016
单片机技术在时间继电器测试中的应用
介绍时间继电器延时参数的测试,单片机测试框图以及软件流程.另外对检测的外围线路以及对在检测过程中的电磁兼容EMC问题也进行了相关介绍和说明.
时间继电器、延时参数测试、单片机、外围硬件线路、EMC
25
TM5(电器)
2006-03-30(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共4页
38-40,58
点击收藏,不怕下次找不到~
10.3969/j.issn.1672-9560.2006.01.016
时间继电器、延时参数测试、单片机、外围硬件线路、EMC
25
TM5(电器)
2006-03-30(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共4页
38-40,58
国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1
违法和不良信息举报电话:4000115888 举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn