一种对微处理器进行控制和数据采集的自动测试系统

摘要：

对MCU处理器软件功能验证的常规方案是逐点输入控制量,再逐点监测输出信号的时序和数值.该测试方案是希望预置一条或多条应用户特殊要求、连续变化的控制曲线来控制MCU的输入量,再实时采集MCU的输出口,监测输出信号连续变化的历史波形,真实客观评价在连续变化的工况下,程序处理的稳定性、可靠性.

关键词：Labview、控制曲线、历史波形

分类号：TP27(自动化技术及设备)

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：21-22,26