基于量子跃迁概率的绝缘子表面流注放电能量计算方法

摘要：

绝缘子表面放电过程能量交换形式复杂,难以准确计算,绝缘子表面污闪尚未有准确的检测方法.为深入分析绝缘子表面放电过程,探索放电检测新方法,该文通过流注击穿理论和量子跃迁能量概率结合,研究绝缘子表面放电过程能量变化特征.从微观粒子能级的角度分析能量的输入与输出形式,结合流注理论对绝缘子临界击穿场强进行计算;将量子跃迁概率等效为统计意义下的比例,结合能级跃迁和微粒化学成分,从电离和跃迁的角度,提出放电能量的理论估算新方法.通过多组实验发现,理论估算的体系能量变化约为实测值的70％～80％,能在一定程度上定量描述污秽绝缘子表面流注放电体系的能量变化.

关键词：绝缘子、流注放电、量子跃迁概率、能量计算

所属期刊栏目：35

分类号：TM85(高电压技术)

资助基金：国家自然科学基金;中央高校基本科研业务费专项资金;国网上海市电力公司科技项目

在线出版日期：2020-09-24（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共8页

页码：3750-3757