高压开关SF6-Cu电弧净辐射系数计算

摘要：

辐射是高温电弧等离子体能量输运的主要过程之一.在高压SF6电弧中,来自触头烧蚀的铜蒸气会显著影响SF6电弧的辐射过程.为了给考虑触头烧蚀的SF6电弧仿真提供辐射相关的基础数据,在原子线状谱、原子连续谱及分子谱辐射计算研究的基础上,建立了高压开关SF6-Cu电弧净辐射系数(NEC)计算模型,分析了电弧半径、电弧压力及铜蒸气浓度对SF6-Cu电弧NEC的影响规律.研究发现:低温时,共振谱线占据主导;高温时,非共振谱线占据主导.NEC随电弧半径增大而下降,随电弧压力增强而升高.铜相比氟和硫等非金属元素更容易激发,谱线辐射强度更高,因此铜蒸气的存在使得SF6-Cu电弧的NEC显著提高.

关键词：SF6电弧、铜蒸气、辐射输运、净辐射系数、原子光谱、分子光谱

所属期刊栏目：33

分类号：TM561(电器)

资助基金：中央高校基本科研业务费专项资金资助项目2242018K40076

在线出版日期：2019-01-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：5600-5606