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10.19595/j.cnki.1000-6753.tces.180703

直流GIL导体表面金属颗粒跳跃运动特性研究

引用
针对直流GIL导体表面金属颗粒去活性化问题,研究不同施加电压下GIL高压导体上表面正球形金属颗粒的运动行为,建立二维极坐标下同轴圆柱电极的颗粒受力模型,采用流体力学理论分析不同雷诺数下阻力系数的取值,并结合经典碰撞和动态接触理论分析颗粒与电极间的非弹性碰撞过程,充分考虑了颗粒法向恢复系数与法向速度之间的关系以及反射随机角度的影响,利用模型对颗粒的运动轨迹进行仿真分析.研究表明:当施加电压大于"谐振"运动临界电压时,颗粒将在腔体下部进行以θ=270°为中心的偏移角度幅值衰减的往复运动,并最终在θ=270°处进行类似于"谐振"的往复振荡运动;在这个过程中颗粒的运动范围角度和"谐振"周期几乎不受初始位置的影响,但却随施加电压的增大而减小,而颗粒进入"谐振"运动的过渡时间随着施加电压和初始位置角度的增大而减小.

金属颗粒、非弹性碰撞、恢复系数、运动行为、临界电压

33

TM85(高电压技术)

国家自然科学基金资助项目51507058

2018-12-21(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共11页

5206-5216

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电工技术学报

1000-6753

11-2188/TM

33

2018,33(22)

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