导电微粒局部放电下SF_6分解组分色谱信号的曲线拟合分峰

摘要：

在采用气相色谱法对SF6分解产物组分进行分析时,由于其分解产物组分的色谱峰存在重叠情况,造成定量计算的困难。本文采用高斯函数和迭代曲线拟合的数值方法进行色谱峰分离,推导了曲线拟合迭代的公式,采取了由宽逐严的峰位确定方法,然后利用迭代公式对峰宽和峰强进行计算,确定最终的各峰峰强和峰宽,从而分离出重叠信号。通过对近完全重叠与部分重叠两种重叠情况的模拟、导电微粒（含金属突出物和自由导电微粒）模拟缺陷局部放电下的分析计算验证了算法的有效性,并可用于SF6分解产物与故障缺陷间相对含量对应关系定量分析的研究。

关键词：SF6气体分解组分、重叠信号、气相色谱法、曲线拟合、GIS

分类号：TM835(高电压技术)

在线出版日期：2011-09-07（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页码：179-185