GIS雷电冲击试验放电原因分析

摘要：

雷电冲击试验是工厂内检测GIS制造缺陷的有效手段.通过分析放电原因找出制造缺陷,是制造厂控制设备质量的方法之一.结合GIS工厂内的雷电冲击放电现象,对GIS放电原因进行推理、分析,以找出质量控制薄弱环节,并提出可借鉴性的质量控制建议.

关键词：GIS、雷电冲击试验、放电、质量控制

分类号：TM56(电器)

在线出版日期：2020-04-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：133-135