10.3969/j.issn.1007-3175.2023.04.008
高压直流VBE系统光发射板故障研究
针对阀基电子设备(VBE)系统光发射板频繁故障问题,通过破解光发射板的电路,分别对光耦输入电路、逻辑控制电路、发光二极管一级与二级驱动电路进行逐一分析及测试,定位出导致光发射板故障的易损元件;通过建立热流等效电路仿真模型研究环境温度对故障元件的影响,进而明确导致元件故障的原因.对VBE屏柜以及易损元件发光二极管和场效应管提出改进措施,以避免元件长期在高温环境下运行导致老化加速甚至故障.
阀基电子设备、光发射板、场效应管
TM721.1(输配电工程、电力网及电力系统)
2023-04-28(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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