10.3969/j.issn.1007-3175.2021.05.008
低压综合配电箱温升影响因素研究
通过对低压综合配电箱(JP柜)的质量抽检,发现其温升试验不合格率较高,一旦温升超过限值将影响设备安全稳定运行.对不同供应商的JP柜开展了温升试验,比较了JP柜空间布局、塑壳断路器型号、母排结构尺寸等方面差异,分析了JP柜中塑壳断路器的温升超标原因,对JP柜中塑壳断路器选用及结构优化等方面提出了相关建议.
低压综合配电箱(JP柜)、塑壳断路器、温升试验
TM594(电器)
2021-05-31(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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